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半導體低頻測試
全面覆盖

通過領先的半導體特性測試儀器现有產品與EDA现有產品形成軟硬件協同，提供差異化和更高價值的數據驅動的EDA全流程解決方案。

參數化測試

半導體參數化測試（Parametric Test）系統主要用于半導體器件的參數測量和監測，是協助芯片制造和設計優化的重要工具。芯片制造廠通過參數化測試評估和優化制造工藝，提高半導體器件性能，確保现有產品的穩定性和可靠性。對于芯片設計來說，參數化測試可以協助設計師了解和驗證半導體器件的參數範圍和特性，可以評估各種設計選擇的優缺點，並優化電路設計以達到最佳性能。

概倫半導體參數分析儀FS-Pro是一款功能全面、配置靈活的半導體器件電學特性分析測試系統，能夠快速、准確地完成幾乎所有半導體器件的低頻特性表征，廣泛應用于各種半導體器件、LED材料、二維材料器件、金屬材料、新型先進材料與器件測試、器件可靠性等研究領域，極大地加速了半導體器件與工藝的研發和評估進程。

概倫FS-MEMS是一款集成傳感器結構參數測試功能的系統，通過一鍵操作即可完成動態和靜態參數測試。該系統全面覆盖電流電壓（IV）、電容電壓（CV）、漏電、電阻、諧振頻率、Q 值、正交系數、-3dB 帶寬等關鍵電學參數，實現自動測試；同時支持多通道並行測試，可顯著提高測試效率，適用于角速度計（陀螺儀）、加速度計、壓力傳感器、光流量計、紅外傳感器等基于MEMS傳感器特性參數測試。

FS800 器件參數分析儀是概倫電子的新一代半導體器件電學特性分析設備，采用自主研發的模塊化架構和數據總線，具有功能全面配置靈活等特點，在一台設備中實現了電流電壓（IV）測試、電容電壓（CV）測試、快速波形發生與測試、低頻噪聲測試以及高速時域信號采集，儀器內置的LabExpress 測試軟件配備豐富的內置測試算法庫，支持擴展測試功能和定制測試流程，可廣泛應用于新材料和新器件研究、電性參數測試、器件模型數據測試、可靠性測試等領域。

噪聲測試

低頻噪聲測試用于測量器件在低頻區域的1/f噪聲和RTN噪聲性能，是半導體器件制造和芯片設計中一種重要的分析手段，能夠幫助芯片制造和設計者提高现有產品質量和市場競爭力。芯片制造廠可通過低頻噪聲測試監測和優化制造工藝，提高器件性能和穩定性；芯片設計公司可通過評估和驗證器件的噪聲特性，優化電路設計以提高電路性能和可靠性。

概倫981X系列低頻噪聲測試系統是低頻噪聲測試領域的黃金標准工具，適用于從成熟工藝到28/14/10/5/3nm等各工藝節點的先進工藝研發、IC設計和學術研究中。業界首款商用級交流噪聲測試系統9812AC爲探索半導體研究新領域提供了更多的可能。

綜合量測

半導體自動量測系統是專門用于半導體器件性能評估和參數測量的系統，通常由參數分析儀、噪聲測試系統和探針台等硬件設備、測量控制軟件以及矩陣開關等自動化機制組成。該系統能夠自動執行多種電性測試，包括電流電壓（IV）特性、電容電壓（CV）特性、脈沖測試、噪聲測試以及可靠性測試等，能夠提高測試效率、准確性和可靠性，在半導體器件的設計、生產和品質控制中起着至關重要的作用。

概倫晶圓級全自動量測解決方案ATS是基于FS-Pro半導體參數分析儀和自研硬件設備及測量控制軟件開發的一套全自動電性量測解決方案。該方案可根據使用需求靈活集成多種軟硬件，廣泛應用于電流電壓（IV）、電容電壓（CV）、脈沖式IV、高速時域信號采集、低頻噪聲測試以及多種可靠性測試。

LabExpress電性參數測試軟件是針對半導體器件研發與生產環境中的電性參數測試應用而設計的一款專業EDA工具，通過用戶友好的圖形界面支持了廣泛的測試設備，具備強大的測試分析和靈活的自定義能力。您可以使用預置模板快速完成測試，也可以爲複雜的實驗編寫自定義測試算法和流程，軟件面向自動量測場景進行了深度優化，支持晶圓映射和海量數據管理，可應用于衆多專業化測試領域，提升自動化測試分析的效率和使用體驗。